当前位置:首页 > 产品中心 > 测试系统 > LDBI多路大功率激光器老化系统

LDBI多路大功率激光器老化系统

4054

        普赛斯多路大功率激光器老化系统专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。

        产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力 强,并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能,为大功率半导体激光 器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案。 

产品特点

●   单抽屉最多支持16路,最多8抽屉

●   各通道互相独立

●   电流回读,同步自动测 量电压、光功率等数据

●   加热膜加热,温控范围室温~125℃

●   电源抗浪涌设计

●   收光装置水冷

●   绝对精度±1℃,不同 DUT温度均匀性±2℃

●   老化数据自动记录 与数据导出

产品选型

项目工作模式脉冲宽度脉冲频率电压测量电压测量通道数光电流检测光电流检测通道数
技术指标CW及QCW最小100μs,最大3ms0~10kHz,步进0.1Hz0-100V,0.1%FS±80mV16通道0~10mA 量程,0.5%±60μW1路,可支持16路分时复用
步进1μs
最大占空比3%



*以上规格如有更新,恕不另行通知。

相关产品

为了方便我们更好地为您服务,请留下您的宝贵信息

  • * 我们会谨慎对待您的个人信息,保护您的隐私安全! 稍后我们将安排销售顾问与您取得联系。

  • 我已阅读并同意用户隐私政策

欢迎来到普赛斯仪表资料下载中心

只需1分钟,填写后即可获得:
· 通过电子邮件获取正式的PDF资料
· 专业的技术支持团队VIP一对一服务
· 帮助您构建自定义的高效率、高精度、高安全性解决方案
· 及时获取最新行业资讯及产品动态,快速访问进阶产品内容

  • * 我们会谨慎对待您的个人信息,保护您的隐私安全! 稍后我们将安排销售顾问与您取得联系。

  • 我已阅读并同意用户隐私政策